Ist die am häufigsten verwendete Testmethode in der Digitaltechnik. Das Grundprinzip ist, dass parallel zu den Ein-und Ausgängen FlipFlops zur Abbildung des aktuellen Zustands der Pins, aber auch zur Imitation von Pin-Zuständen eingebaut werden.
Die Flip-Flop Reihe, bilden ein Schieberegister, das die Zustände der IOS abbildet bzw. selbst bildet. Dieses Schieberegister ist SCAN CHAIN genannt.
Um die Daten der Scan Chain zu erhalten, braucht es die JTAG-Schnittstelle.
Die Scan Chain kann den aktuellen Zustand der IOs über die JTAG-Schnittstelle TDO nach aussen geben.
Sie kann auch virtuell Input Werte setzen über die Schnittstelle TDI. Dies dient der Simulation, bei der ein Verhalten von Eingängen simuliert wird.