{"id":1083,"date":"2016-01-08T09:10:10","date_gmt":"2016-01-08T09:10:10","guid":{"rendered":"http:\/\/coolt.ch\/notizen\/?p=1083"},"modified":"2016-01-08T10:16:17","modified_gmt":"2016-01-08T10:16:17","slug":"boundary-scan-test","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/coolt.ch\/notizen\/boundary-scan-test\/","title":{"rendered":"Boundary Scan Test"},"content":{"rendered":"<p>Ist die am h\u00e4ufigsten verwendete Testmethode in der Digitaltechnik. Das Grundprinzip ist, dass <strong>parallel zu den Ein-und Ausg\u00e4ngen FlipFlops<\/strong> zur Abbildung des aktuellen Zustands der Pins, aber auch zur Imitation von Pin-Zust\u00e4nden eingebaut werden.<\/p>\n<p>Die Flip-Flop Reihe, bilden ein <strong>Schieberegister, das die Zust\u00e4nde der IOS abbildet bzw. selbst bildet<\/strong>. Dieses Schieberegister ist <strong>SCAN CHAIN<\/strong> genannt.<\/p>\n<p><a href=\"http:\/\/coolt.ch\/notizen\/wp-content\/uploads\/2016\/01\/scanChain1.png\"><img loading=\"lazy\" class=\"alignnone wp-image-1089 size-medium\" src=\"http:\/\/coolt.ch\/notizen\/wp-content\/uploads\/2016\/01\/scanChain1-300x172.png\" alt=\"\" width=\"300\" height=\"172\" srcset=\"https:\/\/coolt.ch\/notizen\/wp-content\/uploads\/2016\/01\/scanChain1-300x172.png 300w, https:\/\/coolt.ch\/notizen\/wp-content\/uploads\/2016\/01\/scanChain1.png 796w\" sizes=\"(max-width: 300px) 100vw, 300px\" \/><\/a><br \/>\nUm die Daten der Scan Chain\u00a0 zu erhalten, braucht es die<a href=\"http:\/\/coolt.ch\/notizen\/jtag-built-in-testing-for-fpga\/\"> JTAG-Schnittstelle<\/a>.<\/p>\n<p>Die Scan Chain kann den aktuellen Zustand der IOs \u00fcber die JTAG-Schnittstelle TDO nach aussen geben.<\/p>\n<p>Sie kann auch virtuell Input Werte setzen \u00fcber die Schnittstelle TDI. Dies dient der Simulation, bei der ein Verhalten von Eing\u00e4ngen simuliert wird.<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Ist die am h\u00e4ufigsten verwendete Testmethode in der Digitaltechnik. Das Grundprinzip ist, dass parallel zu den Ein-und Ausg\u00e4ngen FlipFlops zur Abbildung des aktuellen Zustands der Pins, aber auch zur Imitation von Pin-Zust\u00e4nden eingebaut werden. Die Flip-Flop Reihe, bilden ein Schieberegister, das die Zust\u00e4nde der IOS abbildet bzw. selbst bildet. Dieses Schieberegister ist SCAN CHAIN genannt. &hellip; <a href=\"https:\/\/coolt.ch\/notizen\/boundary-scan-test\/\" class=\"more-link\"><span class=\"screen-reader-text\">Boundary Scan Test<\/span> weiterlesen<\/a><\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":[],"categories":[57,60],"tags":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/coolt.ch\/notizen\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1083"}],"collection":[{"href":"https:\/\/coolt.ch\/notizen\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/coolt.ch\/notizen\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/coolt.ch\/notizen\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/coolt.ch\/notizen\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1083"}],"version-history":[{"count":4,"href":"https:\/\/coolt.ch\/notizen\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1083\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1087,"href":"https:\/\/coolt.ch\/notizen\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1083\/revisions\/1087"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/coolt.ch\/notizen\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1083"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/coolt.ch\/notizen\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1083"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/coolt.ch\/notizen\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1083"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}